Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- Формирование и диагностика ультракоротких электронных банчей в лазерах на свободных электронах
- Авторы
- Бровко Олег Игоревич obrovko@list.ru, начальник отдела, Объединенный институт ядерных исследований, Россия, 141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Ж. Кюри, 6
Макаров Роман Станиславович obrovko@list.ru, и. о. младшего научного сотрудника, Объединенный институт ядерных исследований, Россия, 141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Ж. Кюри, 6
Матюшевский Евгений Александрович obrovko@list.ru, главный технический специалист, Объединенный институт ядерных исследований, Россия, 141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Ж. Кюри, 6
Морозов Николай Анатольевич obrovko@list.ru, начальник сектора, Объединенный институт ядерных исследований, Россия, 141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Ж. Кюри, 6
Сыресин Евгений Михайлович obrovko@list.ru, помощник директора лаборатории, Объединенный институт ядерных исследований, Россия, 141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Ж. Кюри, 6
Юрков Михаил Владимирович obrovko@list.ru, ведущий научный сотрудник, Объединенный институт ядерных исследований, Россия, 141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Ж. Кюри, 6
- В разделе
- ЭЛЕКТРОННЫЕ И ИОННЫЕ ПУЧКИ
- Ключевые слова
- лазер на свободных электронах / электронный банч / ондулятор / волна / диагностика
- Год
- 2010 номер журнала 3 Страницы 46 - 55
- Индекс УДК
- УДК 621.384.6
- Код EDN
- Код DOI
- Финансирование
- Тип статьи
- Материалы конференций
- Аннотация
- Обсуждены формирование и диагностика ультракоротких электронных банчей для лазеров на свободных электронах (ЛСЭ), таких как FLASH, рентгеновский лазер XFEL и ЛСЭ для экстремальной ультрафиолетовой (УФ) литографии. Во всех ускорительных комплексах требуются формирование и диагностика ультракоротких электронных банчей с длиной около 50 мкм. Инфракрасный (ИК) ондулятор, изготовленный в Объединенном институте ядерных исследований (ОИЯИ) и установленный на FLASH, применяется для измерения продольной длины электронных сгустков. Совместно с УФ-ондулятором он также используется для двухцветной генерации излучения в ЛСЭ, что позволяет исследовать динамику атомных и молекулярных систем с временным разрешением 100-500 фс. Для измерения излучения ЛСЭ FLASH в широком диапазоне длин волн (6,5-30 нм) с большим динамическим диапазоном разработана диагностика на основе микроканальных пластин.
- Полный текст статьи
- Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Список цитируемой литературы
-
Andruszkow J. et al.// Phys. Rev. Lett. 2000. V. 85. P. 3825.
Ackerman W. et al. // Nature Photonics. 2007. V. 1. P. 336.
Derbenev Ya. S., Kondratenko A. M., Saldin E. L.// Nucl. Instrum. and Methods 193. 1982. Р. 415.
Holler Y. et al. Magnetic measurements of the FLASH infrared undulator// Proc. FEL07. 2007. P. 318.
Gensh M. et al.// Infrared physics and technology. 2008. V. 51. P. 423.
Brovko O. et al. Diagnostic of ultrashort electron bunches developed at JINR// RUPAC 08. 2008. P. 304.
Gensh M. et al. THz undulator beam line at FLASH: Towards a THz XUV pump probe user facility// Proc. FEL 09.
Saldin E. et al. Potential of the FLASH FEL technology for construction of a kW-scale light source for next generation lithography// Там же.
- Купить
