Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- Полупроводниковый шумовой термометр
- Авторы
- Холкин Владимир Юрьевич vkholkin@mail.ru, канд. техн. наук, доцент кафедры технологии и дизайна радиоэлектронной техники, Северо-Западный государственный заочный технический университет, Санкт-Петербург, Россия
- В разделе
- ПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
- Ключевые слова
- шумовой термометр / полупроводниковый термометр / функциональная электроника / низкочастотный шум / полупроводниковый прибор
- Год
- 2009 номер журнала 2 Страницы 85 - 89
- Индекс УДК
- УДК 621.382
- Код EDN
- Код DOI
- Финансирование
- Тип статьи
- Научная статья
- Аннотация
- Рассмотрена возможность создания устройства, позволяющего определять температуру в теле кристалла полупроводниковой микросхемы. Принцип работы устройства основан на эффекте генерации шума в прямой ветке p-n-перехода при определенных тепловых и электрических нагрузках.
- Полный текст статьи
- Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Список цитируемой литературы
-
Haslett J. W., Kendall J. M. Temperature dependence of low-frequency excess noise in junction-gate FETs// IEEE Trans. Elect. Dev., 1972. ED-19. Р. 943-950.
Hoffmann H. J., Sohn W. Analysis of Localized Levels in Semiconducting CdS from Generation-Recombination Noise Spectra//Phys. Stat. Solidi A. 1977. V. 44. No. 1. P. 237-246.
Nyquist H. Thermal agitation of electric charge in conductors//Phys. Rev. 1928. No. 32. P. 110-113.
- Купить
