Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Название статьи
- Результаты исследования чувствительности фотоэлементов матричных КРТ фотоприемников в различных температурных режимах
- Авторы
- Кремис Игорь Иванович igor21738@ngs.ru, младший научный сотрудник, Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники, Россия, 630090, г. Новосибирск, просп. Лаврентьева , 2/1. Тел.: 8-923-231-66-98
- В разделе
- ФОТОЭЛЕКТРОНИКА: ЭЛЕМЕНТНАЯ БАЗА И ТЕХНОЛОГИЯ
- Ключевые слова
- дефектные элементы / нечувствительные элементы
- Год
- 2010 номер журнала 4 Страницы 91 - 99
- Индекс УДК
- УДК 621.383.5.029.71/73
- Код EDN
- Код DOI
- Финансирование
- Тип статьи
- Научная статья
- Аннотация
- Представлены результаты исследования чувствительности фотоэлементов матричных фотоприемных устройств (ФПУ) производства Sofradir, ИФП СО РАН и ФГУП «НПО "Орион"» при прохождении ФПУ циклов заморозки при температуре от 293 до 77 К. Рассмотрены зависимости чувствительности элементов от температуры абсолютно черного тела (АЧТ). Дана оценка частоты появлений дефектных по чувствительности элементов при разных температурах АЧТ и многократных циклах заморозки ФПУ. Предложен алгоритм обнаружения дефектных по чувствительности элементов приемника. Рабочий диапазон длин волн исследуемых приемников соответствует дальней ИК-области 8-14 мкм.
- Полный текст статьи
- Необходимо зарегистрироваться, чтобы получить доступ к полным текстам статей и выпусков журналов!
- Список цитируемой литературы
-
Кремис И. И., Однолько Ю. Ф. Унифицированная система обработки сигналов многоэлементного фотоприемного устройства ИК-диапазона на основе микросхемы программируемой логики типа FPGA// Прикладная физика. 2007. № 4. С. 133-140.
Овсюк В. Н. Курышев Г. Л., Сидоров Ю. Г. и др. Матричные фотоприемные устройства инфракрасного диапазона. - Новосибирск: Наука, 2001. - 376 с.
Болтарь К. О., Грачев Р. В., Полунеев В. В. Определение дефектных элементов матричных тепловизионных приемников в процедуре двухточечной коррекции// Прикладная физика. 2009. № 109(1). С. 42-45.
Грачев Р. В. Калибровка параметров тепловизионной матрицы для двухточечной коррекции в блоке электронной обработки на базе микроконтроллера МС-24// Вопросы радиоэлектроники. Сер. ЭВТ. 2008. Вып. 3. С. 148-156.
Кремис И. И., Однолько Ю. Ф. Способы и принципы построения алгоритмов ЦОС многоэлементного фотоприемного устройства ИК-диапазона на основе микросхемы программируемой логики// Прикладная физика. 2008. № 3. С. 101-111.
Болтарь К. О., Бовина Л. А, Саганов Л. Д., Стафеев В. И. Тепловизор на основе "смотрящей" матрицы из CdHgTe формата 128×128// Там же. 1999. № 2. С. 50-54.
- Купить
